Chroma/致茂台湾58620激光半导体特性测试机特色：
 
 
 
全自动化检测边射型激光半导体芯片
 
 
高精密及高容量载具设计
 
 
自动光纤耦合测试对位设计(Auto-alignment)
 
 
AOI辅助定位，加速测试时间
 
 
共用载具设计可搭配烧机测试
 
 
高精密TEC温度控制，稳定度达0.01℃
 
 
搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter
 
 
软体分析激光特性: 
 Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等
 
 

  
 
 
激光半导体为高科技产品，价格不斐，多数使用于光通讯/医疗/  等领域，并 与人类社会息息相关。传统的激光半导体因价格高昂，可靠性要求程度  ，需 要大量的人工与时间来进行光路调整(Alignment)测试与封装后的检测。
 
Chroma/致茂台湾58620激光半导体特性测试机致茂58620为一全新概念机种，专为激光半导体(Laser Diode)所打造设计，搭配自 动化特性检测All-In-One设计概念，可供不同的测试项目同时进行检测；搭配高 容量的载具设计，可供多颗激光芯片(Chip level)进行大量测试；另外藉由光学定 位辅助(AOI)，可提升自动化检测的速度与可靠性；高稳定性的温控平台设计，可 让研发人员  地了解激光半导体特性与温度的关系。
 
致茂58620 可应用于研发单位小量试产验证( Laboratory ) 或是生产单位 (Production)，可有效提高激光半导体测试产出率(Throughput)。
 
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