SID4-Swir-HR波前传感器
 
基于Phasics专利的四波横向剪切干涉技术和高质量的InGaAs探测器，提供了一个非常高的空间分辨率和灵敏度。确保测量红外镜头和短波红外源的精度。此外，SID4 SWIR提供了光谱范围从0.9到1.7?m，这种波前传感器覆盖可见光、近红外和短波红外区域且不需要任何校准直接进行测量。
 
 
 SID4-Swir                                               
 
特点：
 
由于其  的专利技术技术，Phasics的SID4-Swir波前传感器具备以下特点：
 
1.高分辨率：160x128测量点
 
2.高灵敏密度：整个光谱范围内相位噪声低于2nm
 
3.消色差：0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）
 
4.紧凑：易于集成
 
应用：
 
透镜测试：SID4 SWIR波前分析仪实时测量光学元件MTF和畸变。适用于光通信，夜视和其他 事和监视设备。无色差，SID4 SWIR涵盖所有光通信波长。
 
激光束测试：SID4 SWIR也可以短波红外光源，像1.55μm激光器或用于激光导向系统的LED。
 
SID4-Swir产品参数：
 
 
 
 
  
 
   
 
波长范围
 
 
   
 
0.9-1.7μm（可扩展到2.4μm）
 
 
  
 
  
 
   
 
通光孔径
 
 
   
 
9.6 x 7.68 mm2
 
 
  
 
  
 
   
 
空间分辨率
 
 
   
 
60 ?m
 
 
  
 
  
 
   
 
采样点（相位/强度）
 
 
   
 
160 x 128 (> 19 000 points)
 
 
  
 
  
 
   
 
相位相对灵敏度
 
 
   
 
<2nm RMS
 
 
  
 
  
 
   
 
相位精度
 
 
   
 
15nm RMS
 
 
  
 
  
 
   
 
动态范围
 
 
   
 
100μM
 
 
  
 
  
 
   
 
采样频率
 
 
   
 
120 fps
 
 
  
 
  
 
   
 
实时分析频率
 
 
   
 
7 fps (full resolution)
 
 
  
 
  
 
   
 
数据接口
 
 
   
 
Giga Ethernet
 
 
  
 
  
 
   
 
尺寸(w x h x l)
 
 
   
 
100 x 55 x 63 mm
 
 
  
 
  
 
   
 
重量
 
 
   
 
455g