石英晶振测试一体机GDS-80P晶体阻抗计基本介绍 
 
 
 在晶振参数测量中，由于Fs和Fr阻抗相对较低，按IEC 444和EIA 512进行Fs/Fr测量没有什么困难，对于负载谐振频率(FL)的测量才是主要问题，特别是负载电容(CL)很低的时候。晶振在负载谐振频率处阻抗相对较高，用50Ω网络分析仪测量较高阻抗要求测量设备具备很高稳定性和高精度，一般来说这样的要求不切实际，成本太高。所以后来又出现几种新的测量方法，如计算法、物理负载电容法等，这些方法设计用于测量低阻抗晶振，这样就可使用低精度设备。 
 
 
  
 
 
 石英晶振测试一体机GDS-80P晶体阻抗计性能特点 
 
 
 无源晶振称为石英晶体谐振器，其参数很多。较简易的方法，可以搭载一个振荡电路，用频率计测量频率，并替代电阻法，等效得出晶振谐振电阻。并用电容表直接测量晶振静态电容。但由于振荡槽路不平衡，较难测出准确数值。 
 
 
 用阻抗计测量。可以较容易测量到Fs、Rr、C0、FL、Ts、CL等参数值，并可通过计算得出其它相关参数。缺点阻抗计一般数度有限，频率值一般误差在5ppm左右，其支架电感的严重影响，使串联谐振频率相位移较大，同时又干扰正确测量负载谐振频率。另外，其测量有一定的局限性，只能测量质量因数大于60以上的晶振，也不能进行功率扫描和寄生扫描。 
 
 
 网络分析仪测量。分为专用和通用两种。专用网络分析仪设置简单，可以进行全部晶振参数的测量，但不能它用。通用的网络分析仪，设置较为繁杂，测量参数有限，但可以通过计算获得。 
 
 
 石英晶振测试一体机GDS-80P晶体阻抗计技术参数 
 
 
 
1. 中心频率范围： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意设定
 
 
2. 扫描范围：±1000ppm（默认±400ppm）
 
 
3. 负载电容：1-100P 任意设定
 
 
4. 串联谐振频率Fs测量范围：±1000ppm（默认±400ppm） 测量精度：±5ppm
 
 
5. 串联谐振电阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）
 
 
10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）
 
 
6. 负载电容CL测量范围：1-200PF
 
 
7. 时基误差：±1ppm
 
 
8. 负载谐振频率FL测量精度：±5ppm+时基误差+0.5Pf*频率牵引力Ts
 
 
 
 石英晶振测试一体机GDS-80P晶体阻抗计使用说明 
 
 
 晶振测试主要方法主要经历了早期的晶体阻抗计，到目前主流的网络分析仪方案。早期的晶体阻抗计检定依据为JJG(電子) 05053-1995 晶体阻抗计检定规程，代表产品有安捷伦HP4915A/4916A，S&A 150等；经历了约20年的发展，2023年国际公认的测试方法为网络分析仪测试方案，依据标准为GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法》，典型产品有智慧源的GDS-80系列等。 
 
 
 石英晶振测试一体机GDS-80P晶体阻抗计采购须知 
 

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