LED激光光谱检测系统LQ-50X
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东莞市博沃德通讯科技有限公司

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头盔检测、试验仪器,光伏电池检测仪器,光伏检测、试验仪器,摩托车头盔检测仪器,头盔撞击实验机器,头盔表面摩擦试验机,冰雹冲击试验机,湿漏电流测试系统,机械载荷试验机,组件背板抗划伤试验机,头盔冲击试验,头盔吸收碰撞试验
- 产品参数 -
型号 Lq-50X
规格 Lq-50X-test
产量 100
型号 Lq-50X
规格 Lq-50X-test
- 产品详情 -
LED激光光谱检测系统BWD-LQ-50X
 
产品介绍 目前 LED发展所面临的挑战包含∶
1.新型态的LED具备低亮度(<50000 cd/m2)、衰减快的特性
2.发光半宽(FWHM)较传统 LED小(OLED~100 nm;PVSK LED~50 nm)
3.非朗伯体(Non-Lambertian)分布,使得辉度(cd/m22 )换算 EQE 时误差很大
4.发光波长超过视函数波段(可见光范围),无法以光通量与辉度评价 其中「衰减快」与T红外发光的准确评价」
,是与转换效率高低息息相关,
 

Product introduction the challenges faced by led development at present include:

(<50000 cd/m 2)、 Characteristics of fast attenuation

(oled~100 nm; PVSK led~50 nm)

, so that the brightness (cd/m 2 2) There is a big error when converting EQE

-emitting wavelength exceeds the visual function band (visible light range),, "fast attenuation" and "accurate evaluation of t-infrared luminescence"

, which is most closely related to the conversion efficiency,

 
 
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