定制CLCC44-1.27测试座合金翻盖探针老化座编程座ic座适用封装芯片为：CLCC44pin间距为1.27mm尺寸：16.5*16.5m根据客户需求，上盖和底盖均需要做避空处理产品特点：1、本品为翻盖结构合金探针测试座；2、适用于间距为1.27mm的clcc封装芯片；3、紧凑的设计和较小的测试压力；4、  的结构避免卡球；5、可更换限位框，高精度的定位槽和导向孔，测试准确无误；6、根据实际测试情况，选用不同探针，可以对IC进行有锡球、无锡球不同测试；7、人性化设计，探针可更换，便于拆卸、维护，降低测试成本；8、进口探针、工程材料结合高精度制作设备，socket测试 稳定，使用寿命 长。产品参数：适用封装芯片为：CLCC44pin间距为1.27mm尺寸：16.5*16.5mm1、绝缘抗阻:1000MΩ500V2、耐电压：1MinuteAtAC700V3、接触抗阻：30mΩorlessat10mAand20mV(Initial)4、额定电流:1A频率：1G以内5、工作温度：-40℃~+175℃6、接触压力：8-10gPin(Normal)7、使用寿命：15,000Times(Mechanical)8、工作压力：2.0KgMAX