晶振测试座DFN8(6*8)-1.27翻盖探针测试座 QFN8-1.27-CPO1PNL烧录座
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产地
广东省/深圳市
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深圳市鸿怡电子有限公司

主营产品:
IC老化座,IC烧录座,EMMC/EMCP烧录座,SSD系列,DDR/GDDR socket,BGA系列老化/烧录座,QFN系列老化/烧录,QFP系列/老化/烧录,TSOP48系列老化/烧录,Sop系列老化/烧录,晶振系列老化/烧录
- 产品参数 -
商标 HMILU
型号 DFN8(6*8)
规格 PEI
产量 1000
是否有现货
应用 集成IC
类型 SD卡座
安装方式 翻盖型T-flash卡座
品牌 HMILU
型号 DFN8(6*8)
规格 PEI
商标 HMILU
- 产品详情 -
DFN8(6*8)-1.27翻盖探针测试座产品简介产品用途:编程座、测试座,对DFN8的IC芯片进行烧写、测试适用封装:DFN8引脚间距1.27mm测试座:DFN8(6*8)-1.27特点:采用U型顶针,接触 稳定规格尺寸型号:DFN8(6*8)-1.27引脚间距(mm):1.27脚位:8芯片尺寸:6*8详情请点击:产品简介A、产品用途:编程座、测试座,对DFN8的IC芯片进行烧写、测试B、适用封装:WSON\QFN\DFN8引脚间距0.5mmC、测试座:WSON\QFN\DFN8(6*8)-1.27D、特点:采用U型顶针,接触稳定,性能 稳定E、座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度硬、寿命长(翻盖结构20000次)F、我司可提供规格书(布板图)资料,PDF档\CAD规格尺寸A、型号:DFN8(6*8)-1.27B、引脚间距(mm):1.27C、脚位:8D、芯片尺寸:6*8
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