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BGA测试座,LGA26,QFN 20/CPU,eMMC,eMCP,射频,模块,功能测试座,测试治具,FT测试,芯片功能测试夹具,指纹模块测试
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- 供货总量
- 111111个
- 产地
- 广东省/深圳市
- 发货期
- 自买家付款之日起15天内发货
- 产品参数 -
| 商标 | sireda |
|---|---|
| 型号 | BGA,LGA,QFN,等等 |
| 规格 | 半导体芯片 |
| 包装 | 纸箱 |
| 产量 | 100000 |
| 是否有现货 | 否 |
| 元器件种类 | 半导体器件测试仪 |
| 型号 | BGA,LGA,QFN,等等 |
| 规格 | 半导体芯片 |
| 商标 | sireda |
| 包装 | 纸箱 |
- 产品详情 -
提供定制化BGA,LGA,QFN,射频模块,指纹模块等半导体功能测试架，测试治具，测试夹具 间距0.35-1.27 mm 可测试芯片PIN脚可达3000+， 能提供高频需求的射频等特殊芯片测试方案，高低温，大电流等特殊要求也能满足
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