EDX600PLUS是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，专门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行  检测,帮助企业准确核算成本及质量管控。可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空  、磁性材料、汽车行业、通讯行业等领域。 
 
 
 X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪性能特点 
 

  EDX600PLUS能将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的优势。 
 
 在准直器的选择上,EDX600 PLUS也有着很大的优势,它可以搭配的准直器小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑,让 小样品的测量也变得游刃有余。 
 
 
  
 
 
 X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪技术参数 
 

  元素分析范围从硫(S)到 （U）。 
 
 同时可以分析30种以上元素，五层镀层。 
 
 分析含量一般为ppm到99.9% 。 
 
 镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同） 
 
 任意多个可选择的分析和识别模型。 
 
 相互独立的基体效应校正模型。 
 
 多变量非线性回收程序 
 
 温度适应范围为15℃至30℃。 
 
 电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源 
 
 
  
 
 
 X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪使用说明 
 

  人性化的软件界面，让操作变得便捷。 
 
 曲线的中文备注，让您的操作易上手。 
 
 仪器硬件功能的实时监控，让您的使用放心。 
 
 
  
 
 
 X荧光膜厚分析仪 金属膜厚分析仪 光谱膜厚分析仪采购须知 
 

  天瑞仪器提供上门安装和仪器的操作培训指导工作，物流送货上门。整机质保一年，并在质保期满后提供终身的有偿维修服务。