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规格 | 供货量(件) |
半导体测试 | 5 |
商标 | 西安智盈电气 |
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型号 | Dbc-249 |
规格 | 800*800*80 |
包装 | 木箱 |
产量 | 10 |
是否有现货 | 是 |
认证 | 西安智盈电气 |
元器件种类 | 半导体器件测试仪 |
型号 | Dbc-249 |
规格 | 800*800*80 |
商标 | 西安智盈电气 |
包装 | 木箱 |
半导体 分立器件测试系统基本介绍设备的扩展性强,通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A。采用了脉冲测试法,脉冲宽度为300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。半导体 分立器件测试系统性能特点设备的扩展性强,通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A。采用了脉冲测试法,脉冲宽度为300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。半导体 分立器件测试系统技术参数基础配置
技术参数
ZY-2050A型
主极电压
10mV-2000V
主极电流
10-500A
电压分辨率
1mV
电流分辨率
100nA
测试精度
3%+2LSB
测试范围
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测试器件
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二极管 / DIODE
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绝缘栅双大功率晶体管 / IGBT
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晶体管 / NPN型/PNP型
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MOS场效应管 / MOS-FET
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J型场效应管 / J-FET
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可控硅 / SCR
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双向可控硅 / TRIAC
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达林顿列阵 / DRALINTON
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光电耦合 / OPTO-COUPLER
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稳压、齐纳二极管 / ZENER
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三端稳压器 / REGULATOR
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双向触发二极管 / DIAC
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硅触发可控硅 / STS
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光电开关 / OPTO-SWITCH
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光电逻辑 / OPTO-LOGIC
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金属氧化物压变电阻 / MOV
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固态过压保护器 / SSOVP
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压变电阻 / VARISTOR
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继电器 / RELAY
半导体 分立器件测试系统使用说明设备的扩展性强,通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A。采用了脉冲测试法,脉冲宽度为300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。半导体 分立器件测试系统采购须知
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