半导体分立器件测试系统基本介绍设备的扩展性强，通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A。采用了脉冲测试法，脉冲宽度为300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。半导体分立器件测试系统性能特点设备的扩展性强，通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A。采用了脉冲测试法，脉冲宽度为300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。半导体分立器件测试系统技术参数基础配置技术参数ZY-2050A型主极电压10mV-2000V主极电流10-500A电压分辨率1mV电流分辨率100nA测试精度3%+2LSB测试范围√√测试器件√√二极管/DIODE√√绝缘栅双大功率晶体管/IGBT√√晶体管/NPN型/PNP型√√MOS场效应管/MOS-FET√√J型场效应管/J-FET√√可控硅/SCR√√双向可控硅/TRIAC√√达林顿列阵/DRALINTON√√光电耦合/OPTO-COUPLER√√稳压、齐纳二极管/ZENER√√三端稳压器/REGULATOR√√双向触发二极管/DIAC√硅触发可控硅/STS√光电开关/OPTO-SWITCH√光电逻辑/OPTO-LOGIC√金属氧化物压变电阻/MOV√固态过压保护器/SSOVP√压变电阻/VARISTOR√继电器/RELAY半导体分立器件测试系统使用说明设备的扩展性强，通过选件可提高电流、电压以及测试品种的范围。支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A。采用了脉冲测试法，脉冲宽度为300uS。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。半导体分立器件测试系统采购须知