型号 | Xdx-df130n |
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规格 | 1350X800X700 |
产量 | 200 |
是否有现货 | 是 |
测量范围 | 130mm |
型号 | Xdx-df130n |
规格 | 1350X800X700 |
微焦斑芯片检测设备微焦斑X-RAY检测系统,微焦斑芯片检测设备基本介绍微焦点射线机、无损检测仪、微焦点射线管数字成像一、仪器简介:XDX-DF130N型无损检测仪;采用进口49um高分辨率成像系统,微焦点射线管数字成像,图像清晰.仪器全数字化软件操作功能;正反选图像、图像放大缩小、左右旋转,前后旋转、翻转、数字化高清灰度专业图像采集、千兆网端有线连接,电脑即时成像、存储和即时打印检测效果图片.使用方便、 、可靠。二、仪器特点:XDX-DF130N型X-RAY无损检测仪,主要用于:半导体元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、电子元器件、封装元器、集成电路、电容、热敏电阻、手机电路、电池、电路板、电子产品内部结构是否变形、空焊、脱焊、断裂、移位、等非破坏性检测;同时还可用于:发热管、发热丝内部结构检测、铸件、压模铸件、注塑件、气孔、气泡等检测。微焦斑芯片检测设备性能特点主要用于:半导体元器件、BGA、CPU、PCBA、IC芯片、电子元器件、封装元器、集成电路、电容、热敏电阻、手机电路、电池、电路板、电子产品内部结构是否变形、空焊、脱焊、断裂、移位、等非破坏性检测;同时还可用于:发热管、发热丝内部结构检测、铸件、压模铸件、注塑件、气孔、气泡等检测。微焦斑芯片检测设备技术参数微焦X射线检测系统XDX-DF130N型X-RAY无损检测仪:技术参数:1、数字成像视场:116X146mm(不同面积可订制)2、像素间距:49.5um;(高分辨率成像系统)3、间距:200-600mm;4、A/D转换;16/bits5、空间分辨率;/mm(高分辨率)6、管电压:40-90kv;(进口微焦5um射线机)7、管靶流:0.15-0.3mA;8、电脑系统:windows10;9、远程控制:远程操作软件;10、有线传输端口:千兆网口;11、主机重量:210kg;12、适配器输出电压:DC24V。13、交流电源频率:50-60hz;?微焦斑芯片检测设备使用说明微焦斑芯片检测设备采购须知
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