X荧光光谱仪ROHS检测仪镀层厚度合金分析仪基本介绍 
 
 
 
基本原理：射线 -- 照射样品 -- 原子外层电子受激辐射 -- 产生X射线荧光光子 -- 荧光光子被探测器接收 -- 经过脉冲多道处理器 — 上位机处理形成谱图RoHS指令，EN71-3玩具指令，Cl,Br,无卤测试检测仪、镀层厚度
 
 
 
 X荧光光谱仪ROHS检测仪镀层厚度合金分析仪性能特点 
 

  元素分析范围从(S)到(U)   
 

  元素含量分析范围为2PPm到99.99% 
 

  一机多用：ROHS检测、镀层测厚、合金分析等  ，十五年光谱仪制造经验，产品通过了市场的质量验证 
 
 
 X荧光光谱仪ROHS检测仪镀层厚度合金分析仪技术参数 
 
 
 
 元素分析范围从(S)到(U)；
 
 
 元素含量分析范围为2 PPm到99.99%；
 
 
 测量时间：100-300秒；
 
 
 RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度达2PPM；   
 
 
 能量分辨率为149±5电子伏特；
 
 
温度适应范围为15℃至30℃；
 
 
 电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。）
 
 
 仪器尺寸：700*460*370mm,样品腔尺寸：500*320*100mm
 
 
产品特点
 
 
EDX6000E是专门针对ROHS、EN71等环保指令设计得一款产品。
 
 
打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。
 
 
采用美国型的Si-pin探测器，电致冷而非液制冷，体积小、数据分析准确且维护。
 
 
采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量  。
 
 
 一键式自动测试，使用简单，方便，人性化。
 
 
七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。
 
 
多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品。 
 
 
的一体化散热设计，使整机散热性能得到提高，保证了核心部件的运行  。
 
 
的机芯温控技术，保证X射线源的运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。
 
 
多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作稳定、。
 
 
ROHS测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。
 
 
本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。
 
 
 
 X荧光光谱仪ROHS检测仪镀层厚度合金分析仪使用说明 
 

    
 
 
 X荧光光谱仪ROHS检测仪镀层厚度合金分析仪采购须知