X-射线检测系统基本介绍 
 

    
 
Nordson Dage  Quadra™ 5 X-射线检测系统
 
 
灵活的 X-射线具有检测到 0.35um 缺陷的功能。
 
 
 
 
 
Quadra™5 是一款 X-射线检测系统，适用于亚微米材料的应用如 PCB 和半导体封装检测、假冒成分筛选和成品质量控制。
 
 
查看  准的细节
 
 
 
  
获取关于样品的更多信息。QuadraNT™ X-射线信号源和 AspireFP™ 探测器由内部设计、制造和集成，专门用于制造电子产品的样品。
 
  
超过 30 个  图像增强滤波器，可以创建 加清晰、易于读取的图像， 加容易找到缺陷。
 
 
 
 
简单即标准
 
 
 
  
确保制造合规。用于 BGA 质量分析、凸点直径和圆度、焊丝冲弯、焊接和 QFN 空隙的内置自动化工具，可快速查找缺陷，帮助您满足 IPC-A-610 和 IPC-7095 合规标准。 
 
  
使用专有控制和测量软件，减少操作员培训时间。鼠标轻轻一点，即可使用所有功能。
 
 
 
 
 
 
 

    
 
 
 X-射线检测系统技术参数 
 

    
 
 
 X-射线检测系统使用说明 
 

    
 
 
 X-射线检测系统采购须知