Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）基本介绍 
 

    
 
 
 Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）性能特点 
 
 
 
Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）-DektakXT
 
 
一、概述
 
 
 
 
 
布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计创新，实现了  的重复性和分辨率，垂直高度重复性<5Å。这一里程碑式的产品源自于Dektak系列占据业界  地位长达四十年的优异表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。
 
 
 
 
 
 
 
 
台阶高度重复性  5埃（<5 Å）
 
 
 
  
单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性
 
  
  的”智能化电子器件”实现了低噪声的新  
 
 
 
 
操作简便，  易用
 
 
 
  
直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程
 
  
  的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量
 
  
自对准的探针设计使用户可以轻而易举地更换探针
 
 
 
 
探针式轮廓仪的全球ling  dao者
 
 
 
  
性能  ，物超所值
 
  
完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障
 
 
 
 
二、历史：技术创新四十余年
 
 
过去四十年间，世界范围内有上万台Dektak系列产品应用于各个领域，广泛用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。它们以  、可靠、  等特性广受赞誉。
 
 
 
 Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）技术参数 
 

    
 
 
 Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）使用说明 
 

    
 
 
 Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）采购须知