INTESTIC芯片温度冲击测试机ATS710基本介绍inTEST产品包含ThermoStream高低温循环测试系统，ThermoSpot接触式高低温测试系统，广泛应用于三星，TMSC，英特尔，IBM等半导体，以及光通讯，通讯器件行业，科研单位。INTESTIC芯片温度冲击测试机ATS710性能特点inTESTThermoStream高速热测试系统用于各种温度测试和调节应用。从传统的半导体测试、失效分析和器件特性分析，到广泛应用于PCB和电子子装配测试，inTEST的温度能力系统可以满足您的各种需求，适用于组件、零部件、混合动力汽车、模块、印刷电路板的快速和  的冷热冲击测试。inTEST热流仪能够在不使用液氮(LN2)或液体二氧化碳(LCO2)的情况下进行超低温处理。这种高质量的温度循环系统提供一个创新的温度测试解决方案,允许在你的试验台、在你的生产设施、或在你的实验室进行在线式组件、板卡、模块的温度测试,。INTESTIC芯片温度冲击测试机ATS710技术参数INTESTIC芯片温度冲击测试机ATS710使用说明INTESTIC芯片温度冲击测试机ATS710采购须知