TS-780H热流仪在RF测试中的应用基本介绍在集成电路的RF射频屏蔽高低温测试。TS-780H高低温热流仪系统现在可以与射频行业各类箱室进行配对，可以轻松地在受控的射频环境中进行各种温度下的IC测试。在极端温度下的射频测试不仅对半导体行业，而且对整个电子行业来说都是一个挑战。TS-780H热流仪在RF测试中的应用性能特点ThermoStreamTS-780是一台精密的高低温冲击热流仪，具有广泛的温度范围-80℃到+225℃（箱室内温度需根据容积/负载核算），DUT的功能可以确保箱体的温度，提供温度稳定性<±1°C；温度转换能力，温度转换从-55℃到+125℃之间转换小于90秒（容积不同，转换能力不同），热流仪支持自动化编程使用。当Flex软管和d箱室配对时，HEAD在一个RF射频隔离的环境中，因为灵活的连接性，可以设计直接接触到测试样品。TS-780H热流仪在RF测试中的应用技术参数技术规格型号TS-780H温度范围-80ºC至+225ºC典型温度转换率-55ºC至+125ºC约10秒温控精度±1ºC显示精度±0.1ºC出气流量4~24SCFM（1.9L/s~11.3L/s）系统操作高清彩色触摸屏，10"TFT系统语言中文/英文操作模式手动模式/程序模式TS-780H热流仪在RF测试中的应用使用说明1.长期搁置不用时，请拔出电源线后包装保存。2.使用中因故障需更换零部件时，请使用本公司的原装零部件。3.设备在保修期内损坏，将由厂家或厂家机构接待修理。4.厂家或厂家机构将不免费接受由不正当操作或忽略说明书相关告事项导致损坏的修理。5.对设备进行清洁前，务必拔掉电源。6.对设备清洁时，使用中性去垢剂和软布，请勿使用粗布、强化学腐蚀性溶剂及有机溶剂。TS-780H热流仪在RF测试中的应用采购须知一台起购