基本介绍 
 

    
 MarSurf XCR 20轮廓仪和粗糙度仪测量一体机是轮廓和粗糙度测量的理想选择。一个测量站适合两种测量任务, 包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱。 
 

  性能特点 
 

    
 
  组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20
 
 
 
 
 
描述
 
 
组合“轮廓和粗糙度“测量任务使用的测量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 组合测量站是轮廓和粗糙度测量的理想选择。
 
 
此测量站包含 PCV / CD 120 驱动单元和 GD 25 粗糙度驱动单元和 MFW 250 B 测头系统。
 
 
两个驱动单元均使用联合支架安装在测量立柱 (ST 500/ST 750)上，可用于粗糙度 (GD 25) 或轮廓（PCV 或 CD 120）测量。
 
 
结合 XCR 20 测量和评定软件，此测量站配置可用作通用型测量站测量粗糙度深度和轮廓。
 
 
主要优势有：
 
 
一个测量站适合两种测量任务
 
 
* 使用经过检验和测试的 PCV 200 轮廓驱动和测头系统（如上文所述）。
 
 
* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 测头和高分辨率测量系统测量粗糙度
 
 
另外，此联合测量站还可改装为 XC 20 配置。换句话说，如有需要，您可使用 PCV / CD 120 驱动单元方便地将 XC 20 测量站升级为联合测量站。只需添加 GD 25 驱动单元和联合支架。软件需要从 XC 20 升级为 XCR 20。
 
 

  技术参数 
 

    
 
 
  
 
   
 
    
 
接触速度(Z方向)
 
 
    
 
0.1-1mm/s
 
 
   
 
   
 
    
 
测杆长度
 
 
    
 
175mm，350mm
 
 
   
 
   
 
    
 
测量速度（文本）
 
 
    
 
0.2mm/s至4mm/s
 
 
   
 
   
 
    
 
针尖半径
 
 
    
 
25
 
 
   
 
   
 
    
 
扫描长度末尾（X方向）
 
 
    
 
200mm
 
 
   
 
   
 
    
 
分辨率
 
 
    
 
Z方向，相对探针针头：
 
0.38μm（350mm测杆）/0.19μm（175mm测杆）
 
Z方向，相对测量系统：0.04μm
 
 
   
 
   
 
    
 
扫描长度开始（X方向）
 
 
    
 
0.2mm
 
 
   
 
   
 
    
 
取样角
 
 
    
 
在平滑表面上，取决于偏差：后缘高至88°，前缘高至77°
 
 
   
 
   
 
    
 
定位速度（文本）
 
 
    
 
X方向返回速度：0.2至8mm/s
 
Z方向：0.2至10mm/s
 
 
   
 
   
 
    
 
导块偏差
 
 
    
 
＜1μm（200mm以上）
 
 
   
 
   
 
    
 
测量原则
 
 
    
 
探针法
 
 
   
 
   
 
    
 
输入
 
 
    
 
R测头，MFW250
 
光学测头Focodyn*、LS 1*、LS 10*
 
（*仅结合PGK或GD 120 CNC驱动装置）
 
 
   
 
   
 
    
 
测量范围mm
 
 
    
 
（in Z）50mm
 
MFW 250：±25μm，±250μm，（  ±750μm）；±1000μm,±10000μm（  ±30000μm）
 
 
   
 
   
 
    
 
扫描长度（文本）
 
 
    
 
自动；0.56mm；1.75mm；5.6mm；17.5mm，56mm，
 
（.022/.070/.224/.700/2.240英寸）
 
测量至挡块，可变
 
 
   
 
   
 
    
 
采样长度数量符合   /JIS
 
 
    
 
1至50（默认：5）
 
 
   
 
   
 
    
 
测量力(N)
 
 
    
 
1mN至120mN左右（可在MarSurf XC 20中设置）
 
 
   
 
  
 
 
 
 

  使用说明 
 

  具体操作请参照说明书或专业技术人员指导培训。 
 

  采购须知 
 

  我们提供现场安装、调试和使用培训，确保能够独立进行设备的日常运作、维护和管理。一年保修，保修期外，维修费用视实际情况由双方协商。