插损/回损一体化测试站
　　
　　ADIR-161型光纤插回损测试仪是ATHENA开发研制出的带微处理器的精密光检测仪表，具有  的性能价格比。是用于光有源器件和光无源器件的回波损耗测试及设备装配检查、生产质量检测的 理想的测量工具，是光纤通信系统研究、开发和生产，以及施工、维护等部门  的基本测试仪器。
　　ADIR-161型光纤插回损测试仪可以进行宽动态范围及高精度的光回波损耗测量。由于采用了大动态范围和微弱信号检测等  的信号处理和软件处理技术，具有当前国际    。
　　
　　性能特点：
　　-操作简单，测量回波损耗及插入损耗过程中无需任何按键
　　-测试速度快，回损、插损分别显示，测试结果一目了然，减轻操作人员视觉疲劳
　　-回损/插损测试波长同步自动设定，减少操作步骤
　　-可同时完成双波长测试
　　-一机多用，经济实惠（可用作光插回损仪、台式光功率计、台式光源）
　　-光源接头可拆卸方便捷清洁，并提供全面的功率计接口配置
　　-可将测试数据保存在电脑上，方便记录
　　
　　操作简单：在测量回损及插损过程中无需任何按键操作，回损/插损值分别在一台仪器上的两个液晶窗口显示，测试结果一目了然。仪器将零值及参考值等参数自动存储在其内部，即便是仪器断电后再开机，正常情况下不需重复校准。
　　
　　波长自动同步设定：在回损模式下，仪器将自动同步设定光源及功率计在同一测试波长；功率计模式时，可单独设定功率测试波长。
　　
　　多种工作模式：仪器可设定的工作模式有：
　　-1310nm测试，用于测试1310nm的回损及插损。
　　-1550nm测试，用于测试1550nm的回损及插损。
　　-双波长1310/1550nm测试，用于同时测试1310/1550nm双波长的回损及插损（标准产品为双光源）。
　　-光功率计模式，用作为高动态范围（-70dBm）、高精度光功率计。
　　-该测试站也可用作为高稳定激光源，起到一机多用的作用。
　　
　　双波长测试：仪器内置的双波长测试模式将测试双波长1310/1550nm的回损及插损，双波长的回损/插损值将通过光源波长键切换显示在LCD上。
　　
　　光学接口易于清洁：光功率计采用活动接口，可轻易卸下以便对光探测器进行清洁，或更换其它型号适配器如FC/SC/ST/2.5mm通用/1.25mm通用等，用于测试各种型号跳线。回损测试部分的FC/APC接口采用特殊结构，可轻易卸下对内部光纤接口端面进行清洁。同时，所有光学接口都具有防尘设计。
　　
　　人体工学设计：仪器整机外观紧凑、美观、实用。面板采用按键开关设计，手感良好，外壳采用高质量铝塑机箱，确保仪器性能不受生产环境下可能存在的电气干扰。LCD屏对比度高，并采用白色高亮LED作背光，显示清晰。仪器支架可随意调节，并配有提手，适应不同要求，符合人体工学。
　　
　　测试精度高：仪器内部采用   的微电子技术以及高质量光学器件，配合精心编程的内置软件，使得仪器光源输出功率高且极其稳定，测量范围宽，测试速度快，具有惊人的测量准确性以及重复性。