基于Phasics四波横向剪切干涉技术，SID4-Dwir涵盖了中红外和远红外波段（3-5，8-14µm）。在中波红外和长波红外范围具备高分辨率（160×120个测量点）。非常适合红外目标与镜头测试或红外激光束测量（CO2，OPO激光…）。
 
          
 
  SID4-Dwir                      
 
 
光学器件测量                  
 
 
自适应光学
 
 
 
特点：
 
由于其  的专利技术技术，Phasics的SID4-Dwir波前传感器具备以下特点：
 
1.高分辨率：160x120测量点
 
2.双波长测量：3-5，8-14µm中远红外
 
3.消色差：可用于黑体辐射测量
 
4.高数值孔径测量：无需外加透镜
 
 
 
应用：
 
1.光学测量：SID4-Dwir是表征红外目标的工具（热成像和视觉），红外镜头（CO2激光）测量可出给MTF，PSF，以及泽尼克像差。消色差功能可在多波长下测试。
 
2.激光束测量：如CO2激光或红外OPO激光光源的特性测量，SID4-Dwir提供了一个全面的光束特性（像差，M²，强度分布，光束参数…）
 
 
 
SID4-Dwir产品参数：
 
 
 
 
  
 
   
 
波长范围
 
 
   
 
3-5和8-14μm
 
 
  
 
  
 
   
 
通光孔径
 
 
   
 
10.88 x 8.16 mm2
 
 
  
 
  
 
   
 
空间分辨率
 
 
   
 
68 µm
 
 
  
 
  
 
   
 
采样点（相位/强度）
 
 
   
 
160 x 120 (> 19 000 points)
 
 
  
 
  
 
   
 
相位相对灵敏度
 
 
   
 
75nm RMS
 
 
  
 
  
 
   
 
相位精度
 
 
   
 
25 nm RMS
 
 
  
 
  
 
   
 
动态范围
 
 
   
 
~
 
 
  
 
  
 
   
 
采样频率
 
 
   
 
50 fps
 
 
  
 
  
 
   
 
实时分析频率
 
 
   
 
10 fps (full resolution)
 
 
  
 
  
 
   
 
数据接口
 
 
   
 
Giga Ethernet
 
 
  
 
  
 
   
 
尺寸(w x h x l)
 
 
   
 
85 x 118 x 193 mm
 
 
  
 
  
 
   
 
重量
 
 
   
 
~1.6k g