基于Phasics四波横向剪切干涉技术的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm，具有高分辨率（160x120测量点）。确保非常  的波前测量。结构紧凑，很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。
 
         
 
    SID4-HR      
 
             
 
光学器件测量 
 
                 、
 
自适应光学
 
 
 
特点：
 
由于其  的专利技术，Phasics的SID4-NIR波前传感器具备以下特点：
 
1.高分辨率：160x120测量点
 
2.高数值孔径测量：无需转镜头
 
3.消色差：1.5-1.6μm
 
4.结构紧凑：易于集成于光学系统
 
 
 
应用：
 
SID4 NIR主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学，如用于电信领域或光谱和夜视设备。
 
镜头表征：实时提供MTF和畸变数据。结构紧凑，易于集成于试验台和生产线。
 
光学设备校准：它提供了一个非常准确的像差测量。
 
SID4 NIR产品参数：
 
 
 
 
  
 
   
 
波长范围
 
 
   
 
1500 - 1600 nm
 
 
  
 
  
 
   
 
通光孔径
 
 
   
 
3.6 x 4.8 mm2
 
 
  
 
  
 
   
 
空间分辨率
 
 
   
 
29.6 µm
 
 
  
 
  
 
   
 
采样点（相位/强度）
 
 
   
 
160 x 120 (> 19 000 points)
 
 
  
 
  
 
   
 
相位相对灵敏度
 
 
   
 
< 11 nm RMS
 
 
  
 
  
 
   
 
相位精度
 
 
   
 
15 nm RMS
 
 
  
 
  
 
   
 
动态范围
 
 
   
 
~
 
 
  
 
  
 
   
 
采样频率
 
 
   
 
> 60 fps
 
 
  
 
  
 
   
 
实时分析频率
 
 
   
 
> 10 fps (full resolution)
 
 
  
 
  
 
   
 
数据接口
 
 
   
 
Giga Ethernet
 
 
  
 
  
 
   
 
尺寸(w x h x l)
 
 
   
 
44 x 33 x 57.5 mm
 
 
  
 
  
 
   
 
重量
 
 
   
 
~250 g