台阶仪NanoMap-PS基本介绍台阶仪NanoMap-PS是一款专门为nm级薄膜测量研发的无需防震台即可测量的接触式台阶仪AFM  位移传感器，  精度压电陶瓷驱动扫描，  无内源振动自集成主动反馈式防震系统真正无需额外辅助防震系统，实现高重复性纳米测量纳米量级科学研究的  产品NanoMap-PS台阶仪可以应用在半导体，光伏/太阳能，光电子，化合物半导体，OLED，生物医药，PCB封装等领域的薄膜厚度，台阶高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），划痕深度，磨损深度，薄膜应力（曲定量率半径法）等定量测量方面。其高精度，高重复性，自动探索样品表面，自动测量深受广大客户欢迎。测量表面可以覆盖多种材料表面：金属材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，对于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻胶等“柔软表面”也可测量无须担心划伤或破坏。设备传感器精度高，稳定性好。热噪声是同类产品  的。垂直分辨率可达0.1nm。可测表面，包括透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料，金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿等；AEP的技术日新月异。欲了解  的产品性能参数，请与我们联系。主要参数:垂直分辨率0.1nm垂直最大量程1000um探针接触力0.03mg-100mg平台范围直径150毫米（可选200毫米或  ）高清图像4级放大，彩色CCD成像光源双长寿命强光LED金刚石探针0.5um到25um可选台阶仪NanoMap-PS性能特点台阶仪NanoMap-PS技术参数台阶仪NanoMap-PS使用说明台阶仪NanoMap-PS采购须知