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SE-RD-STD系列全光谱椭偏仪
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- 产地
- 日本
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- 自买家付款之日起30天内发货
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无锡浩辉者新材料科技有限公司
身份认证
- 主营产品：
- 可携式拉曼/荧光光谱系统,显微共轭焦拉曼/荧光光谱系统,材料与生物影像分析系统,材料应力分析系统,扫描探针近场光谱分析系统,显微曝光系统,临场分析变温载台,光源,光谱仪与侦测器,纳米材料专区,实验室规划与代检服务
- 产品参数 -
| 商标 | 详询 |
|---|---|
| 型号 | Se-rd-std |
| 规格 | 台 |
| 包装 | 详询 |
| 是否有现货 | 是 |
| 分类 | 其它 |
| 类目 | 测定仪 |
| 型号 | Se-rd-std |
| 规格 | 台 |
| 商标 | 详询 |
| 包装 | 详询 |
| 专利分类 | 详询 |
| 专利号 | 详询 |
- 产品详情 -
SE-RD-STD系列全光谱椭偏仪基本介绍● 桌上型膜厚量测设备
● 安装移动迅速便捷
● 适用于所有非金属膜质
● 多样化的应用选择
● 工业标准数据端口
规格
技术指标
衬底类型
透明或半透明衬底
光源
氙灯
光源寿命
>8760H
光谱范围
300-1000nm
入射角
70度（40度-90度 每5度可调）
光斑直径
100x120μm(Min80x100um)
测量时间（不对焦）
<2S(单层模型),<约6s（多层模型）
膜厚测量范围（单层膜）
1nm-15μm
对焦
自动讯号对焦
膜厚测量精度
<0.5nm(基于标片)
折射率测量精度
<0.005(基于标片)
厚度重复性精度：
<0.5A（1 sigma 标准差,10times）（基于标准片）
折射率重复性精度：
<0.0005（1 sigma标准差,10times）（基于标准片）
可测试膜层数量
≥2层
标片数量
2片
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