二手奥林巴斯KIF-202平面激光干涉仪基本介绍 
 
 
 
小型·操作简便
充分考虑作业现场内的使用环境，占地空间小，方便操作。
可测量倍率（1×、2.5×)
测定倍率扩大到2.5×，可简单测量小件物体。与Φ60-Φ15（可选件）的孔径转换器组合匹配使用的话，可扩大10倍。（平面测定时）
参照镜片λ/20 高精度 
因为本社加工技术，参照镜为λ/20高精度镜片。根据客户选择的需要，也可提供λ/30 的产品。
丰富的附属备件群 
我社准备了丰富的附属备件。如使用干涉条纹解析装置（KIF-FSPC/FS2000)，可进行高精度条纹解析。
主要用途：
 
 
 
  
镜片研磨面的面精度的测定。
 
  
塑料成型件的面精度的测定。
 
  
各种金属切削面的面精度的测定
 
 
 
 
 
 
 
规格：
 
 
测定方法： 斐佐型干涉方式
 
 
口径 ：Φ60（使用可选件为Φ6-Φ102）mm
 
 
被检物大小： Φ6-Φ102（平面测定时）mm
 
 
倍率：1×2.5×（本体2 段切换）4×、10×（使用Φ60-Φ15的孔径转换器时）
 
 
参照面精度： λ/20（球面以及平面）
 
 
光源 ：He-Ne（632.8nm）激光
 
 
电源： AC100V 50/60Hz
 
 
本体外形尺寸 ：220（W）×360（D）×740（H）mm
 
 
本体重量 ：约33kg
 
 
标准附属品： 9型TV显示器、5轴调整受台