二手硅晶片少子寿命测试仪（WT-2000PVN）/8层新硅晶片测试仪二手硅晶片少子寿命测试仪（WT-2000PVN）厂家/批发价格-东莞市博沃德通讯科技有限公司，中国制造网移动站

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二手硅晶片少子寿命测试仪（WT-2000PVN）/8层新硅晶片测试仪二手硅晶片少子寿命测试仪（WT-2000PVN）

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产地: 广东省/东莞市

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东莞市博沃德通讯科技有限公司

主营产品：: 头盔检测、试验仪器,光伏电池检测仪器,光伏检测、试验仪器,摩托车头盔检测仪器,头盔撞击实验机器,头盔表面摩擦试验机,冰雹冲击试验机,湿漏电流测试系统,机械载荷试验机,组件背板抗划伤试验机,头盔冲击试验,头盔吸收碰撞试验

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- 产品参数 -

型号	WT-2000PVN
包装	木箱
产量	10
是否有现货	是
品牌	（WT-2000
加工定制	是
类型	少子寿命测试
用途	硅晶片少子寿命测试
控制方式	电动
重量	100
产品用途	测试
型号	WT-2000PVN
包装	木箱

- 产品详情 -

二手硅晶片少子寿命测试仪（WT-2000PVN）/8层新硅晶片测试仪
二手硅晶片少子寿命测试仪（WT-2000PVN）/8层新硅晶片测试仪


 
1、U-PCD/无接触微波光电导衰减少子寿命扫描；
2、LBIC/电池的光诱导电流扫描；
3、SHR/无接触方块电阻扫描；
4、Eddy Current/涡流法体电阻率扫描（扫描硅片和硅锭的体电阻率）

产品质量保证书、出厂效证报告及中文操作说明书各一份


壹年内免费维修，整机终身服务！