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测试要求：
测试标准引自 IEC 62804 (Draft) “System voltage durability test for crystalline silicon modules – design qualification and type approval”，基本要求是准备 3 块组件。其中一块作为控制组件，组件置于一定温度和湿度的环境中，将组件的内部导电体与高压电源的一个极连在一起，组件外导电体与高压电源的另一极连在一起。 一块组件在正偏压下进行老化，一块组件在负偏压下老化。
2.测试条件如下：
在湿热环境试验中对组件施加电压应力
环境温度：60℃±2℃；
环境湿度：85%±5% RH；
测试时间：96 小时；
测试电压：在组件需满足的正系统电压下或负系统电压下。
试验根据IEC60068—2-78要求在湿热环境箱中进行，但是，当测试条件和说明书不同时，可以适当改变；
1） 在25℃的温度下，在组件玻璃表面覆盖铝箔，1000V 直流电施加在组件的输
出端和铝框上168 小时。
2） 组件  性85%的湿度85℃高温测试，然后在60℃或85℃的环境下100 小
时，将1000V 直流电施加在组件输出端和铝框上100 小时。 
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