芯片测试座IC测试夹具BGA模块半导体定制测试方案
价格
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供货总量
1000个
产地
广东省/深圳市
发货期
自买家付款之日起7天内发货

深圳市鸿怡电子有限公司

主营产品:
IC老化座,IC烧录座,EMMC/EMCP烧录座,SSD系列,DDR/GDDR socket,BGA系列老化/烧录座,QFN系列老化/烧录,QFP系列/老化/烧录,TSOP48系列老化/烧录,Sop系列老化/烧录,晶振系列老化/烧录
- 产品参数 -
商标 ANDK
型号 BGA378
规格 0.8
产量 100000
是否有现货
形状 矩形
制作工艺 注塑
接触件材质 合金
绝缘体材质 探针
针数 定制
接口类型 HDR
特性 耐高温
型号 BGA378
规格 0.8
商标 ANDK
- 产品详情 -
产品特点: 采用手动翻盖/双扣式结构,操作方便; 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位; 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球; 高精度的定位槽和导向孔,保证IC定位  ,测试效率高; 测试频率可达9.3GHz; 用途:集成电路应用功能验证测试; 可根据用户要求定做各种阵列的sock 有翻盖式结构和双扣结构两种方式可供选择,操作方便; 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位; 探针的特殊头形突起能刺破锡球的氧化层,接触可靠,而不会损伤锡球 用途:集成电路应用功能验证测试 可根据用户要求定做各种阵列的socket
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