产品概述—RDL系列雷达物位计
  
 RDL系列雷达物位计是基于雷达测距原理的物位测量产品。该仪表具有稳定性高、测量精度高、应用场合广泛等优点。相比其它原理的仪表而言，RDL系列产品 是具有受所测物料的介电常数变化及密度变化影响小、抗粉尘、抗雾气的特点。
 雷达物位计天线发射极窄的微波脉冲，这个脉冲以光速在空间传播，遇到被测介质表面，其部分能量被反射回来，被同一天线接收。发射脉冲与接收脉冲的时间间隔与天线到被测介质表面的距离成正比，从而计算出天线到被测介质表面的距离。
 RDL系列仪表可使用液晶调试/显示模块，支持现场调试，支持Hart通信协议。其中液晶调试/显示模块具有调试和显示的双重功能，无需使用任何  辅助设备，使用户能够直观地读取、设置所需的各项数据。
  
 特性
 ·硬件系统采用  的微处理器以及嵌入式系统处理软件，信号算法处理集成了  的Echo-capture信号处理技术，使得该产品可以应用于各种复杂工业厂况。
 ·“空罐预处理”技术使得仪表即使在多个虚假回波干扰的工况下，还可以正确的识别真实目标回波，获取正确的测量结果。
 ·不受各种复杂工况的影响，如表面的强烈波动、泡沫、水汽及粉尘的干扰。
 ·K-band雷达波束角小，能量集中，具有  的抗干扰能力，大大提高了测量精度和可靠性；天线尺寸小，便于安装和加装防尘罩等天线保护装置；测量盲区 小，对于小罐测量会取得良好的效果；波长 短，对小颗粒物质的料位测量 适合。
 ·探头使用温度范围：-100℃~500℃
 ·可调阻尼功能防止输出信号跳动
 ·非接触式测量，避免对被测物料的影响
 ·无活动、无易磨损部件，无需经常清洁、保养、调试
  
 典型应用
 ·水
 ·酸碱容器
 ·沥青，焦油
 ·粘合剂，油漆
 ·粉末，碎屑，颗粒