冲击试样细小瑕疵观察用光学XT-50投影仪型号：XT-50名称：冲击试样投影仪光学投影仪工作原理本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。主要参数投影屏直径：180mm工作台尺寸：方工作台尺寸：110×125mm圆工作台直径：90mm工作台玻璃直径：70mm工作台行程：纵向：±10mm横向：±10mm升降：±12mm（无刻度）工作台转动范围：0-360°（无刻度）放大倍数：仪器放大倍率：50X物镜放大倍率：2.5X投影物镜放大倍率：20X光源（卤钨灯）：12V100W外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）重量：约18Kg产品描述随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行《金属夏比冲击试验方法》该标准对试样要求相当严格，所以在整个试验过程中，试样的加工是否合格会直接影响最终的试验结果。如果试样加工质量不合格，那么其试验结果是不可信的，特别是试样缺口的微小变化可能会引起试验结果的巨大陡跳，尤其是在试验的临界值时，会引起产品的合格或报废两种截然相反的不同结局。为保证试样缺口的合格，其质量检验是一个重要的控制手段，目前，用光学投影放大检验是  切实可行的方法。XT-50型冲击试样夏比投影仪是我方圆公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。我们有完善的售后服务，严格的质量检验、快速的送货服务，更多优惠活动请咨询方圆：13864006141单经理商务QQ：1962526661