CH-A塑料薄膜厚度仪 薄膜测厚仪基本介绍 
 
 
   CH-A数显台式数显测厚仪是用机械测量法测定，适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测量，但不是用于压花的薄膜和薄片。 
 
 
 CH-A塑料薄膜厚度仪 薄膜测厚仪产品特点 
 
 
 
1、结构科学合理
 
 
2、数字显示，直接读取测量结果
 
 
3、测量范围广，精度高
 
 
 
 CH-A塑料薄膜厚度仪 薄膜测厚仪产品应用 
 
 
 
仪器主要用于塑料薄膜、薄片、纸张、纸板的厚度测试，还可扩展用于箔片、硅片、金属片的厚度测试
 
 
 
 CH-A塑料薄膜厚度仪 薄膜测厚仪参照标准 
 
 
 
GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》
 
 
ISO4593—1993《塑料—薄膜和薄片—用机械扫描法测定厚度》
 
 
 
 CH-A塑料薄膜厚度仪 薄膜测厚仪技术指标 
 
 
 
1、测量范围：0~1mm
 
 
2、分辨率：0.001mm
 
 
3、测试面积：50 mm2
 
 
4、测头端部的力：
 
 
（1）上测头的测量面为￠6mm平面，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.5~1.0N；
 
 
（2）上测量面为（R15—R50）mm曲率半径，下测头为平面时，测头对试样施加的力为0.1~0.5N，相当于10.2gf-51gf
 
 
仪器正常工作的环境条件
 
 
1、室温：20℃±10℃。
 
 
2、工作环境清洁，无灰尘、油污和震动源，工作台平整稳固。
 
 
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