ICE1set集成电路测试环境Langer基本介绍ICE1set集成电路测试环境LangerICE1set利用集成电路（IC）测试系统，通过有针对性地施加骚扰（传导耦合以及电磁场耦合），可以分析电路的特性及其干扰发射情况，下图所示被测IC电路功能测试的试验装置，ICE1set集成电路测试环境Langer性能特点ICE1set集成电路测试环境LangerICE1set集成电路用户通过该测试系统获取IC的电磁兼容性能参数，可以1、在IC的开发阶段就考虑电磁兼容性能参数2、根据IC的电磁兼容性能参数，调整布局设计。3、通过比较多种IC的电磁兼容性能参数，为具体应用选择的IC.集成电路生产商可以利用该系统测量IC的EMC参数，并在开发的过程中改善IC的电磁兼容特性：1、通过集成电路的引脚和电磁场测量其EMC参烽。2、查找分析集成电路出现的拨入薄弱点的原因3、有效地开发集成电路的电磁兼容性能。ICE1set集成电路测试环境Langer技术参数最高输入电压：50v带宽：7Mhz连接可能性：4通道探测的信号与接地连接板最大尺寸：215/23mm4*2.54mm插接器2*USB端口，内置USB集线器，1*SPI端口ICE1set集成电路测试环境Langer使用说明ICE1set集成电路测试环境LangerICE1set集成电路用户通过该测试系统获取IC的电磁兼容性能参数，可以1、在IC的开发阶段就考虑电磁兼容性能参数2、根据IC的电磁兼容性能参数，调整布局设计。3、通过比较多种IC的电磁兼容性能参数，为具体应用选择  的IC.集成电路生产商可以利用该系统测量IC的EMC参数，并在开发的过程中改善IC的电磁兼容特性：1、通过集成电路的引脚和电磁场测量其EMC参烽。2、查找分析集成电路出现的拨入薄弱点的原因3、有效地开发集成电路的电磁兼容性能。ICE1set集成电路测试环境Langer采购须知ICE1set集成电路测试环境LangerICE1set成套采购。