商标 | Spi |
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型号 | Hs 60 |
规格 | 1200*1108*2000(mm) |
产量 | 19 |
类别 | X射线测厚仪 |
品牌 | Parmi |
测量产品 | 薄膜 |
显示方式 | 全中文液晶 |
型号 | Hs 60 |
规格 | 1200*1108*2000(mm) |
商标 | Spi |
范围 | 420*350mm |
深圳市本弘科技有限公司SPIHS60三星公司指设备检测原理:激光 射检测锡膏配置:全部锡膏/锡或无锡检测基板配置:全部颜色&全部焊盘离线编程:GerberworksSPC&工程监视:SPCworks系统诊断:SPImanager测定相机系统:HighframerateC-MOSsensor,18X18μmpixelresolution扫描分辩率:20μm侧面分辩率:18μm高度分辩率:0.2μm 锡膏高度:1000μm 锡膏大小:20X20mm 锡膏大小:200X200μm 锡膏间距(Pitch):150μm检查性能:检查种类高度,面积,体积,偏移,连桥检测速度: 精密度() 快速度()进出时间:1sec高度重复性:3Sigma<1.5&...
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