面议
商标 | 雷芮彬 |
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型号 | 实验、工业用 |
规格 | 实验、工业用 |
包装 | 实验、工业用 |
产量 | 10000 |
型号 | 实验、工业用 |
规格 | 实验、工业用 |
商标 | 雷芮彬 |
包装 | 实验、工业用 |
SFP半导体高低温测试盒基本介绍产品带有PID控制软件,智能无级控温,既可加热又可制冷。可用于控制激光器件、医疗器件、半导体器件、红外探测器、光电倍增管、或其它任何需要温度控制的地方。
控温速度快(-40℃)。该设备可以广泛应用于光模块、光器件及其组件、小型和微型化封装的电子产品,在研发、生产各个环节的高低温测试中。该仪器具备如下特点,能有效帮助企业提高生产效率、降低生产成本、快速提升产能。
SFP半导体高低温测试盒性能特点产品特点
智能无级调温,双向温度控制
温度控制精度为±0.1度或0.01度
工作温度可任意设置(常规在-45℃~120℃之间选择,其它范围可定制)
工作温度超过上限/下限(软件设定)时报警
用户可以修改温度PID反馈参数
恒温模式:双向冷热恒温
具有过流、过压、过热等保护
具有硬件过温、欠温等保护电路
高稳定,高抗干扰,完全消除温度采样通道中的50/60Hz工频干扰
采用字符液晶显示,薄膜按键
友好的人机界面和故障诊断功能(在操作不当或电源故障时,电源将给出故障号提示)
机箱尺寸:W×L×H=450×133×320
水冷平台尺寸:可根据客户需要定
接受定制
SFP半导体高低温测试盒技术参数
序号
型号
参数、特点
备注
1
TLT-SFP-20
-20℃-120℃,用于光模块器件老化
高低温老化系统
2
TLT-SFP-40
温控范围-40℃-100°或-20℃-200℃或常温到300℃可选,精度为±0.1℃或0.01℃,用于光模块器件老化
高低温老化系统
3
TLT-SFP-50
温控范围-50℃-100°或-20℃-200℃或常温到300℃可选,精度为±0.1℃或0.01℃,用于光模块器件老化
高低温老化系统
4
TLT-SFP90
纯高温,高温可到300°
高低温老化系统
SFP半导体高低温测试盒使用说明实际应用
光模块测试
SFP半导体高低温测试盒采购须知使用环境
环境温度:-10℃~+50℃ ;
相对湿度:0%~95%,无冷凝 ;
环境:无晃动,无腐蚀气体,无可燃性气体,无油雾,无水蒸气等 ;
大气压:70~106Kpa ;
储存温度:-40℃ ~ +70℃ ;
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