膜厚测试仪椭偏仪应力双折射仪，能够快速、  测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术  世界，并由此开发出的测量仪器。根据应用不同，我们特别开发出5款不同的的膜厚测试仪/椭偏仪，每一款产品各具不同的特点。PHL紧凑型桌面式椭偏仪SE-101型号SE-101重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度0.05秒/测量点光源636nm半导体激光器测量点1mm入射角70度测量尺寸4英寸,仪器尺寸和重量250x175x218.3mm/4kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View凑型桌面式椭偏仪SE-102型号SE-102重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度0.05秒/测量点光源636nm半导体激光器测量点1mm入射角70度测量尺寸4英寸,1轴自动，2轴手动仪器尺寸和重量300x235x218.3mm/4kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View快速映射椭偏仪ME-110型号ME-110重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度每分钟1000个点以上光源636nm半导体激光器测量点0.5mm入射角70度测量尺寸6英寸仪器尺寸和重量650x650x1740mm/120kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View型号ME-110重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度每分钟1000个点以上光源636nm半导体激光器测量点0.0055-0.5mm入射角70度测量尺寸6英寸仪器尺寸和重量650x650x1740mm/120kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View允许厚度分布的测量，例如，透明电极膜和取向膜与基底玻璃的透明基板型号ME-110-T重复性厚度0.1nm,折射率0.001测量速度每分钟1000个点以上光源636nm半导体激光器测量点0.5mm入射角70度测量尺寸6英寸仪器尺寸和重量650x650x1740mm/120kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C功率AC100-240V（50/60Hz）软件SE-View高速，高解析度的表面分布测量