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  基本介绍 
 (产品的基本描述，如定义、功能等) 
 

  应力双折射测量系统WPA-200可测量相位差高达3500nm，适合PC高分子材料，是Photonic lattic公司以其世界的光子晶体制造技术开发的产品，  的测量技术，高速而又  的测量能力使其成为的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。WPA-200型是市场上的机器，适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以直观的读取数据。 
 

  性能特点 
 (除基本功能外的其它特质，例如工作时长、操作简便性等) 
 
 
 
 
  
操作简单，测量速度可以快到3秒。
 
  
采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
 
  
测量数据是二维分布图像，可以直观的读取数据。
 
  
具有多种分析功能和测量结果的比较。
 
  
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
 
  
市场占有率  高的残余应力测量设备
 
 
 
 

  技术参数 
 (例如材质、工艺、尺寸的技术标准等) 
 
 
 
 
  
 
   
 
    
 
项次
 
 
    
 
项目
 
 
    
 
具体参数
 
 
   
 
   
 
    
 
1
 
 
    
 
输出项目
 
 
    
 
相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】
 
 
   
 
   
 
    
 
 
   
 
   
 
    
 
2
 
 
    
 
测量波长
 
 
    
 
520nm、543nm、575nm
 
 
   
 
   
 
    
 
 
   
 
   
 
    
 
3
 
 
    
 
双折射测量范围
 
 
    
 
0-3500nm
 
 
   
 
   
 
    
 
 
   
 
   
 
    
 
4
 
 
    
 
测量最小分辨率
 
 
    
 
0.001nm
 
 
   
 
   
 
    
 
 
   
 
   
 
    
 
5
 
 
    
 
测量重复精度
 
 
    
 
<1nm（西格玛）
 
 
   
 
   
 
    
 
 
   
 
   
 
    
 
6
 
 
    
 
视野尺寸
 
 
    
 
218x290mm-360×480mm（标准）
 
 
   
 
   
 
    
 
 
   
 
   
 
    
 
7
 
 
    
 
选配镜头视野
 
 
    
 
无选配
 
 
   
 
   
 
    
 
 
   
 
   
 
    
 
8
 
 
    
 
选配功能
 
 
    
 
实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制，CD模式
 
 
   
 
  
 
 
 
 

  使用说明 
 (例如使用场所、工作原理、产品结构、安全操作说明等) 
 
 
 
· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）
 
 
· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
 
 
· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
 
 
· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石、单结晶钻石）
 
 
· 有机材料（球晶、FishEve）
 
 

  采购须知 
 (例如发货时间、运输方式、售后服务事项等)