PHL应力双折射测量仪WPA-NIR基本介绍硫系，红外树脂等材料对可见光不透过，这样的样品残余应力评估很难实现，为此PhotonicLattece专门研制了WPA-NIR双折射测量仪，采用850nm或940nm波长，能高速的测量和分析近红外材料的双折射/残余应力分布，安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View，可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场PHL应力双折射测量仪WPA-NIR性能特点红外波长的双折射/相位差面分布测量硫系、红外透明树脂等的光学畸变评估小型、簡単操作、高速測量WPA-NIR能高速的测量/分析波长为850nm或940nm的双折射分布安装既有的操作简单和实用的软件WPA-View可以自由分析任意线上的相位差分布图形、任意区域内的平均值等的定量数据可搭配流水线对应的『外部控制选配』，也可应用于量产现场PHL应力双折射测量仪WPA-NIR使用说明高速测量面的双折射/相位差分布NIR波长仅需操作鼠标数秒内就能获取高密度的双折射/相位差信息测量数据的保存/读取简单快捷全部的测量结果都可以做保存/读取，易于跟过去的测量结果做比较等丰富的图形创建功能可以自由制作线图形和直方图测量结果可以在一个图形上做比较，也可以用CSV格式输出PHL应力双折射测量仪WPA-NIR采购须知如果您想了解更多产品相关信息，请您联系我们。