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PHL应力双折射仪器PHLPA-micro显微型应力双折射仪PHL应力双折射仪器简介:应力双折射仪,能够快速、 测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术 世界,并由此开发出的测量仪器。PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro:型号PA-Micro测量范围0-130nm重复性<1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸250x487x690mm观测到的最大面积5倍物镜:1.1x0.8mm;10倍物镜:0.5x0.4mm;20倍物镜:270x200um;50倍物镜:110x80um;100倍物镜:55x40um.自身重量11kg数据接口千兆以太网(摄像机信号)电压电流AC100-240V(50/60Hz)软件PA-View(forMicro)
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