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商标 | 日本阿波罗 |
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型号 | Parametric probe |
包装 | 原装进口 |
型号 | Parametric probe |
商标 | 日本阿波罗 |
包装 | 原装进口 |
日本阿波罗 DRAM 光伏面板等半导体晶圆级探针卡基本介绍在12英寸范围内可以针对不同的晶圆和测试机适配探针卡日本阿波罗 DRAM 光伏面板等半导体晶圆级探针卡性能特点Parametric Probe card
Features
*日本技术定制,日本生产,快速交货。
*适配东京精密,东京电子,CASCADE 等主流研究或生产型探针台产品。
?Enable to measure under the low / high temperature (-55 deg.C~) ?Measurable the low current(<10fA) ?Corresponding with Agilent 4060,4070,4080
* 耐电压为10KV, 测量电流为400Ap
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