TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪基本介绍 
 
 
 
Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS （飞行时间二次离子质谱仪） 系列中，是一款经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成 分的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。
 
 
 
 
Kore SurfaceSeer S使用的是5keV Cs+离子束（可选惰 性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100μs TOF 循环中，该离子 的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是  的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低 的聚合物上，也通常为5000 c/s）。
 
 
 
 
 
SurfaceSeer S 仪器特点：
 
 
 
  
 
配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损”分析；
 
 
  
 
针对工业领域的成本TOF-SIMS仪器；
 
 
  
 
均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ；
 
 
  
 
可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；
 
 
  
 
质量分辨率可达 >2,500 m/δm (FWHM)；
 
 
  
 
适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。
 
 
 
 
 
 
 
 
SurfaceSeer S 应用领域:
 
 
 
  
 
表面化学
 
 
  
 
黏附力
 
 
  
 
分层
 
 
  
 
印刷适性
 
 
  
 
表面改性
 
 
  
 
等离子体处理
 
 
  
 
痕量分析（表面ppm）
 
 
  
 
催化剂
 
 
  
 
同位素分析
 
 
  
 
表面污染
 
 
 
 
 
 
 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪性能特点 
 

    
 
 
 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪技术参数 
 

    
 
 
 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪使用说明 
 

    
 
 
 TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪采购须知