EM5030近场探头概述：EM5030是一款主要用于查找干扰源，判定干扰产生原因的    近场探头。可用来检测器件表面的磁场方向以及强度；检测模块附近的磁场环境。为了降低干扰，寻找到真正的干扰源或者是其传播的途径是非常有必要的，通过近场探头测量可以很方便地实现定位功能。通过配合EM5020A(20dB增益)或者EM5020B(30dB增益)前置放大器可以提高系统测试灵敏度。技术参数：型号说明特性EM5030－1磁场近场探头，可检查10cm范围内的磁场。主要用于机箱泄漏测试。频率范围：30MHzto3GHz分辨率：25mm左右EM5030－2磁场近场探头，可检查3cm范围内的磁场。频率范围：30MHzto3GHz分辨率：10mm左右EM5030－3磁场近场探头，主要用于线缆电磁泄漏测试。频率范围：30MHzto2GHz分辨率：5mm左右EM5030－4磁场近场探头，可检测垂直方向发射的电磁场。主要用于PCB布线产生的电磁场测试。频率范围：30MHzto3GHz分辨率：2mm左右