（晶圆、晶片、晶体）偏光仪PSV-590基本介绍 
 
 
 
适用范围：
 
 
 
  
适合于检测灯等有复杂构造的产品。
 
  
检测高密度的塑料产品，如    等。
 
  
检测光学晶体，如   等
 
 
 
 
 
 （晶圆、晶片、晶体）偏光仪PSV-590性能特点 
 

  用于分析相关产品内部的瑕疵不良，已达到控制产品品质。 
 
 
 （晶圆、晶片、晶体）偏光仪PSV-590技术参数 
 
 
 
 
  
 
   
 
    
 
型号
 
 
    
 
PSV-590
 
 
   
 
   
 
    
 
尺寸
 
 
    
 
W280×D385×H390mm
 
 
   
 
   
 
    
 
重量
 
 
    
 
11Kg
 
 
   
 
   
 
    
 
测样有效长度
 
 
    
 
W200×D200mm
 
 
   
 
   
 
    
 
测量空间高度
 
 
    
 
max240mm
 
 
   
 
   
 
    
 
光源
 
 
    
 
           590nm橙光 50w
 
 
   
 
   
 
    
 
电源
 
 
    
 
直流24V（带有220V适配器）
 
 
   
 
  
 
 
 
 
 
 （晶圆、晶片、晶体）偏光仪PSV-590使用说明 
 
 
 
检测方法：
 
 
1. Sensitive-Color感光色方法检测
 
 
  感光色方法测量，刻度盘在零度时整个视野呈橙色，这种彩色分为被成为感光色。
 
 
放进样品，存在应力的部位呈浅白色或灰黑色,异与背景色部分。并确定应力性质是压力或张力。
 
 
不存在应力的样品部位则呈橙色,与背景色相同。
 
 
2. SenarmonMethod 补偿法
 
 
   Senarmont补偿法可以进行应力定量分析检测。打开电源，未放样品刻度盘在零度时整个视野范围是黑褐色的，放入样品，不旋转检偏镜，观测出亮点即为应力点。旋转检偏镜上的刻度盘，直至亮点变成黑褐色，记录此时刻度盘旋转的角度及该点的厚度，即可用公式换算出应力值。
 
 
计算公式：应力＝光程差/(被测点的光路长 * 光弹系数)
 
 
          Mpa ＝ nm   /   [cm          * (nm/cm)/Mpa]
 
 
 
 （晶圆、晶片、晶体）偏光仪PSV-590采购须知 
 

  无