抗紫外透过性能测试仪基本介绍UV-2000F抗紫外透过性能测试仪是织物UPF指数快速分析工具抗紫外透过性能测试仪性能特点对于构造粗糙的样品可稳定测量●简单的仪器验证程序，确保  、重复的测量●一触式的样品分析设计，5秒内获得分析结果●可以根据系统自带的方法如AS/NZ4399:19961,EN13758-1:2001AATCCTM183-2000,GB/T18830以及客户定义的方法自动计算UPF值（UVB280-315nm，UVA315-400nm）●漫反射Spectralon积分球能提供  信躁比●便利小巧的尺寸，节省实验室空间抗紫外透过性能测试仪技术参数UV-2000F（包括软件、样品平台和验证套件）UV-2000F操作软件 系统属性和性能波长范围：250to450nm*波长精度：±1nm宽带(FWHM)：<4nm波长间隔（数据间隔）：1nm 光学构造半球照明/0°视角（d/0）积分球材质：Spectralon®积分球开口尺寸：<5%样品曝光面积：0.79cm²光源：闪烁式氙灯每测量周期的紫外线量：<0.2J/cm²样品平台：手动 测量范围透过率：0-100%吸收值：0-2.7AU扫描时间：<5s支持的测量标准：AS/NZS4399:1996,EN13758-1:2002AATCC183:2004,GB/T18830:2009日本服装协会标准用户自定义方法计算机接口：USB计算机要求：1.6GHzprocessor,WindowsXPorWindows7SVGA800x600256MBRAM,400MB硬盘空间供电要求：110-120/220-240VAC,60/50Hz操作环境：0℃-50℃,0%-70%RH(非冷凝)仪器尺寸带操作台尺寸：11Hx22.6Dx12.3WIn(27.9Hx56.6Dx31.2Wcm)不带操作台尺寸：11Hx12.6Dx12.3Win(27.9H32.0Dx31.2Wcm)抗紫外透过性能测试仪使用说明专业设备、功能   UV-2000F抗紫外透过性能测试仪将  的电子元件及软件技术融合到行业认可的系统架构中，来获得  的纺织物的UPF值、临界波长和UVA:UVB（长波紫外线：短波紫外线）比值。在产业需求迅猛发展的驱动下，为了达到简化对纺织物样品的研发和质量控制，UV-2000F按照  的国际认可的测试方法进行设计开发，例如AS/NZ4399:19961,EN13758-1:2001AATCCTM183-2000和GB/T18830。UV-2000F替带蓝菲光学之前的UV-1000F作为行业的新选择，不但用于实验室UPF分析，而且可以用于产品的基本质量控制。UV-2000F做了很多改进，包括新的二极管阵列光谱仪、闪烁氙灯、光学耦合光纤、光学头定位结构、样品定位平台和一套新的、稳定的软件开发平台，从而建立了新的业界标准。新的二极管阵列光谱仪性能稳定，特殊定制的凹面衍射光学系统用于保证测量的完整性和良好的可重复性。采用新颖的全息衍射光栅，摒弃传统的复制光栅方式，保证了波长范围内较高效率，较长的像素阵列保证了  的像素波长分辨率。积分球内的照度经过滤光片从而限制了样品总的曝光时间，改善了杂散光性能。快速、高精度、高效率、5秒快速测量UV-2000F抗紫外透过性能测试仪能够快速测量250-450nm紫外线波段内纺织品样品的漫透射率。蓝菲光学的Spectralon®积分球采用了重新优化的闪烁氙灯作为光源以提供良好的样品漫反射照明效果，从而减少积分时间，能在5秒内提供可靠、可複验的测量结果。新型二极管阵列光谱仪配合新型  的光纤、光学性能在在系统级别进行优化，从而降低了杂散光，提高波长稳定性和闪烁的重复性。操作简便可以通过点击按钮生成测试报告，报告包括如日期，时间，操作人姓名，样品信息和测试参数等必要信息。可以在个人电脑上查阅这些信息，还可以打印或者输出为文本格式进行进一步的数据分析处理。强大、易用的应用软件UV-2000F软件对纺织物样品的UPF的可以采用不同的测量方法，包括AS/NZ4399:19961，EN13758-1:2001AATCCTM183-2000，GB/T18830以及用户自定义方法。兼容WindowsXP和Windows7操作系统，软件简单易用，可实现对不同种类纺织物各种数据的获取、归档、检索和输出。UV-2000F的应用软件整合了现场校验和重新校验的校验程序，从而保证了仪器的  性能。校准片中包括一个波长校准片，可以捕捉6个光谱波段，每个紫外透过率分析仪都包含一套该标准。抗紫外透过性能测试仪采购须知