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Dataray扫描狭缝光束质量分析仪
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- 供货总量
- 66件
- 产地
- 浙江省/杭州市
- 发货期
- 自买家付款之日起15天内发货
- 产品参数 -
| 商标 | Dataray |
|---|---|
| 型号 | Beam’r2 |
| 规格 | CMOS |
| 包装 | 盒装 |
| 产量 | 222 |
| 是否有现货 | 是 |
| 品牌 | Dataray |
| 尺寸 | 57 X 57 X 54 mm |
| 类型 | 光束质量分析仪 |
| 适用范围 | 355 - 1150 nm |
| 加工定制 | 否 |
| 型号 | Beam’r2 |
| 规格 | CMOS |
| 商标 | Dataray |
| 包装 | 盒装 |
| 可测光斑大小 | 2 μm to 4 mm |
| 最大可测功率 | 1 w total &0.3 MW/μm2 |
- 产品详情 -
应用领域：
- 1、通信：光缆加工/熔接、研发
- 2、材料加工：焊接、蚀刻、切割
- 3、消费设备：光学鼠标
- 4、天文
- 5、激光制造与品控
- 6、光谱学
- 7、3D扫描
- 8、粒子检测
- 9、LED：室内照明、车头灯
- 10、LIDAR：AR、VR
- 11、生物医学：眼科手术、激光手术、内部跟踪
扫描狭缝光束轮廓分析仪
扫描狭缝轮廓分析系统提供高分辨率，但是要求光束小于1µm且价格要高于相机型光束分析仪。尽管不能给出光束图像，但是在很多情况下XY或XYZθΦ轮廓就可以满足应用要求。
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| 型号 |
Beam’R2 |
BeamMap2 |
| 波长范围 |
Si: 190-1150nm InGaAs: 650-1800nm Si+ InGaAs: 190-1800nm Si+ InGaAs, extended：190-2500nm |
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| 可测光斑大小 |
2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X) |
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| 分辨率 |
0.1 μm or 0.05% of scan range |
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| 精度 |
± <2% ± ≤0.5μm |
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| 连续或脉冲 |
CW, Pulsed Minimum PRR ≈ [500/(Beam diameter in μm)]kHz |
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| M2测量 |
需要配上电动导轨 |
可直接测量，无需电动导轨 |
| 可测功率 |
1 W Total & 0.3 mW/μm2 |
|
| 增益 |
32dB |
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