X 荧光光谱分析仪 iEDX-150WT基本介绍 
 

  镀层测厚仪 (可选配镀液检测，RoHS 检测，合金分析功能） 
 
 
 X 荧光光谱分析仪 iEDX-150WT性能特点 
 
 
 
镀层检测，镀层检测可达 5 层。 2. 对于薄镀层分析  ，可以  的分析小于 1uin(0.025um）的镀层，可以准确分析 0.2- 0.5uin 的金层。 3. 可同时进行选配 RoHS 检测功能，  的测试 RoHS 指令中的铅、、、铬、、锑、 、等重金属，测试无卤素指令中的、等有害元素。 4. 可同时进行选配镀液药水分析功能，一分钟即可分析出药水内金，，铜等药水含量，分 析精度为 0.01ppm， 5. 可同时进行选配合金成分分析功能。 6. 开槽式超大可移动全自动样品平台 620*525 (长*宽)，样品移动距离可达 220*220X10mm(长*宽*高) ；专为线路板行业研制。 7. 激光定位，可以连续自动多点程控测量； 8. 可以选配多准直器系统，单准直器/6 个准直器/7 个准直器。 9. 可检测固体、液体、粉末状态材料； 10.运行及维护、无易损易耗品，对使用环境相对要求低； 11.可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析； 12.操作简单、易学易懂、、高性能、高稳定性，快速出检测结果（20-40 秒）； 13.标配德国 AmptekSI-Pin 探测器，选配高精度硅漂移 SDD 探测器，保证测试精度。 14.软件支持无标样分析。
 
 
15.相对于传统镀层，开机不需要预热，直接可以测量，测量后可以直接关机，节约用电，减 少关键部件（X 射线管，高压等）消耗，并减少了等待时间。
 
 
 
 X 荧光光谱分析仪 iEDX-150WT技术参数 
 

  X 射线管 高稳定性 X 光管，使用寿命长（工作时 间>15,000 小时）。 MO (鉬)靶，窗口， 光斑尺寸 75um， 油绝缘，气冷式，辐射电子管。 50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序 提供性能。 高稳定性微焦点 X 光管，使用寿命（工作时间>15,000 小 时）。 MO (鉬)靶，窗口， 光斑尺寸 50um，油绝缘，气冷式， 辐射电子管。 50kV，1mA，高压和电流设定为应用程序提供性能。 平台 固定平台 软件程序控制步进式电机驱动 X-Y 轴移动大样品平台。激 光定位、简易荷载最大负载量为 5 公斤，控制程序进行持 续性自动测量。 平台尺寸：620*525mm (长*宽*高) 样品移动距离：220*220X10 mm(X*Y*Z) 准直器 单准直器系统 0.2/0.3MM 选 1 个 0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm 共 7 种准直器规格可选,客户可 选 7 种准直器尺寸，可定制特殊尺寸准直器。 探测器 半导体 Si-PIN 探测器，分辨率 159eV， 高分辨率硅漂移 SDD 探测器，分辨率可达到 125eV. 滤光片 初级滤光片：Al 滤光片，自动切换 / 样品定位 显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍 照功能 / 视频系统 高分辨率 CCD 摄像头、彩色视频系统。 观察范围：3mm x 3mm。 放大倍数：40X。 / 附件 含、、、键盘、鼠标 / 软件 标配 Multi-Ray 镀层分析软件 1、选配 ROHS 分析软件 2、选配合金分析软件 3、选配药水分析软件 检测元素 范围 Al (13) ~ U(92) / 分析样品 类型 液体/固体/粉末 
 
 
 X 荧光光谱分析仪 iEDX-150WT使用说明 
 

  单镀层测量 - 线性层测量，如：薄膜测量 - 双镀层测量 - 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析 - 三镀层测量。 - 无电镀测量 - 电镀溶液测量 - 吸收模式的应用 DIN50987.1/ 3497-A2 - 励磁模式的应用 DIN50987.1/ 3497-A1 - 基本参数法可以满足所有应用领域的测量 
 
 
 X 荧光光谱分析仪 iEDX-150WT采购须知 
 

  采购前先沟通