SIR测试系统 离子迁移 绝缘层劣化检测
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供货总量
100台
产地
日本
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东莞市赐金电子科技有限公司

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身份认证
主营产品:
离子迁移检测仪,低阻测试仪,超加速寿命试验机,HAST,恒温恒湿试验箱,热油测试仪,离子污染测试仪,冷热冲击试验箱,金相显微镜,金相研磨机,线宽线距测量仪,二次元影像测量仪
- 产品参数 -
商标 J-RAS
型号 ECM-100
规格 1
包装 木架
是否有现货
品牌 J-RAS
加工定制
测量精度 1
电源电压 220V
用途 CAF测试
型号 ECM-100
规格 1
商标 J-RAS
包装 木架
- 产品详情 -

我司主要代理日本J-RAS离子迁移设备、低阻测试仪;HITACHI 恒温恒湿、冷热冲击测试仪、快速温变箱;HAST等设备,参与了多个大型PCB中央实验室、第三方检测机构等众多设备投标、建设,欢迎咨询。

公司网站:

欢迎来电咨询:0769-26387119/15807698576

 

超SIR-13,耐CAF试验设备,离子迁移检测仪,绝缘劣化检测系统.

项目

规格·性能·其他

 

型式

ECM-100/40-n  (n:Channel)

ECM-100/100-n (n:Channel)

筐体型式

40CH ( 4计测组合)

100CH 10计测组合)

筐体寸法

265Wx330.3Dx405H(突起部除外)

417.4Wx330.3Dx405H(突起部除外)

消费电力

大约 70VA4计测组合实装时)

大约130VA4计测组合实装时)

重量

大约 16kg4计测组合实装时)

大约25kg4计测组合实装时)

使用电源

AC100V 50/60Hz

 

 

 

计测Channel

10CH

计测电阻值范围

2kΩ~10TΩ

DCbias 印加

电压范围

2范围 1.0~30.0V, 30.1~300.0V

电压范围设定

1 5CH

电压级别设定

Channel 个别

设定分解能

0.1V

设定精度

± (0.3%(F.S.)+0.5) v

最大输出电流

700 ua/CH

DCbias 计测

计测范围

2范围 1~33V, 0~330V

计测精度

± (0.3%(F.S.)+0.5) v

计测分解能

0.1V~(整数+小数点以下1行表示)

AD 转换器

24bits⊿∑AD转换器/CH

计测速度

16msec/10CH

电流计测

计测方式

CHANNEL个别HIGH-SIDE 电流计测方式

计测范围

5范围 ~500uA, ~50uA~2.5uA~125nA~6.25nA

计测范围设定

CHANNEL个别 或者 自动范围

计测精度

± 0.3%(F.S.) v

计测分解能

1pA ~(有效数字4行表示)

AD转换器

24bits⊿∑AD转换器/CH

计测速度

16msec/100CH

C

P

U

制御Channel

5~100CH 5channel 单位)

数据收录

试验制御单位

1 5CH

试验设定小时

1~9999小时

收录间隔(定期)

1~60

收录间隔(ECM发生时)

16msec

记录媒体

Compact flashcard

其他

PC通信机能

LAN接触口x 1

环境试验机通信机能

RS-232C 接触口x 2

外部输入1

接点输入 x 4 (l联动装置,紧急停止制御可)

外部输入2

电压输入(1-5Vx2,电流输入(4-20mAx2(温度·湿度记录可)

自动校正

Bias输出补正,异常leak电流检测

计测线

TRIAXIAL线(耐热温度:200度,被膜材质:特氟隆树脂)

 


300V离子迁移检测仪 CAF设备782032495300V离子迁移检测仪 CAF设备782032475

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