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规格：
 
1、DDR4 
 
2、频率F：超过2800Mhz
 
3、适用于：三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类内存颗粒
 
材料&特性：
 
1、Socket材料：  铝合金、工程玻纤、工程塑料
 
2、PCBA板材料：FR4、镀金焊盘30mil，导电性、抗氧化性强
 
3、探针：
 
材料：
 
针管：磷铜
 
针头：铍铜
 
弹簧：琴钢丝
 
电气性能：
 
额定电流：1.5A
 
接触阻抗：65-182 mohm（最大工作行程状态下）
 
机械性能：
 
压力：28g±20%（工作行程内）
 
测试寿命：10 万次
 
产品特点及性能参数：
 
1、产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）；
2、产品全新设计，相比以前 薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，
3、把频率衰减降到  ，减少误测；
4、有球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压；
5、采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到  的使用寿命；
6、采用台湾  厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB，金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍，保证测试治具有  的导通和耐磨性 ，相比同类产品具有  的超频性能及使用寿命；
7、采用带定位孔内存颗粒测试专用 PCB，探针板与 PCB 孔定位，保证探针与 PCB   定位，如有损坏用户可自行更换维修，简单方便，减少返厂维修，为客户争取宝贵时间；
8、采用超短进口双头探针设计，相比同类测试产品使 IC 与 PCB 之间数据传输距离 短，从而使测试 稳定，频率  ，DDR4 系列频率可达 2000MHZ；
9、探针板采用定位销加螺丝结构，在使用过程中如有探针损坏，客户可自行更换维修，方便
 
维护，为生产争取宝贵时间；
10、高精度合金 IC 定位框，保证 IC 定位  ，取放 IC 方便，从而提高测试效率；
11、测试寿命长，有效测试 10 万次以上；（视使用环境及相关操作而定）
 
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