光谱功率分布/色坐标//色域/相对色温测试仪
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产地
江苏省/苏州市
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苏州千宇光学科技有限公司

身份认证
主营产品:
相位差测量仪,轴角度测量仪,柔性屏弯折机,高低温光电综合系统,弯折机,透射吸收比测试系统,反射率测试系统,高精度液晶盒厚/预倾角测量仪
- 产品参数 -
型号 Vam-85
是否有现货
品牌 千宇光学
适用范围 光学仪器
加工定制
型号 Vam-85
- 产品详情 -
光谱功率分布/色坐标//色域/相对色温测试仪基本介绍

视场角分析仪是一款针对于显示屏视场角测试的设备,适应测试各种尺寸显示屏,由苏州千宇光学科技有限公司精心研发及生产。该设备打破了传统测量的局限,例如:无法完成全空间视场角测试,数据缺失,大视场角度下容易对偏,复现性差,测试速度较慢等技术缺口。引用了新测量技术,通过超精密光学设计,实现全空间视场角测试;利用光谱测量+图像测量功能相结合,实现高精度绝对值测量;一键式快速测量,提高测试效率,达到高准确度测试。

 

该设备可测试:全空间视场角亮度和角度分布色度和角度分布对比度和角度分布光谱功率分布色坐标色域相对色温,亮度和色度均匀性,灰阶等项目,也可根据客户定制化开发。

光谱功率分布/色坐标//色域/相对色温测试仪性能特点
全空间视场角测试,约20秒可以完成全空间项目测试。光谱测量与图像测量功能相结合,同时得到光谱和图像数据。匹配CIE视觉函数,高精度绝对值测量。高分辨率图像传感器,角度分辨率达到0.1°。可搭载在自动化机台上,实现自动测试。适应测试各种尺寸显示屏,4英寸~120英寸。一键快速测量,适用于研发和产线应用,根据客户需求定制开发。
光谱功率分布/色坐标//色域/相对色温测试仪技术参数

型号

VAM-85

视场角

            入射角:  0~85°  ;方位角:  0~360°

测试区域

Φ2mm

测试距离

1mm

角度分辨率 

0.1°

角度准确度

±0.2°

图像分辨率

31M:6400 x 4800

波长范围

380nm~780nm

波长准确度

±0.5nm

亮度测量范围

0.01~10000cd/m2 (可扩展)

亮度准确度

±2%(标准光源)

±3%(任意光源)

色度准确度

x,y:±0.002(标准光源)

x,y:±0.005(任意光源)

电源输入

220VAC 50Hz

重量

10kg

 
光谱功率分布/色坐标//色域/相对色温测试仪采购须知
设备自购买日期起保质期为一年
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