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安捷伦Agilent/HP　4291B阻抗/材料分析仪

简介：

HP4291B测试仪

特点

·基本精度：±0.8%

·  的校准和误差补偿技术

·四种元件用的测试夹具（被测件尺寸：0.5mm~20mm）

·在两上通道内独立选择参数

·直接读出介电常数，导磁率

·两种材料用的夹具（工作温度范围：-55℃~-200℃）

·能进行多种分析（温度、科尔图、弛豫时间）

·多种扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）

主要技术指标

4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5　mm至20　mm）

独立选择2个通道的参数

直接读取介电常数、导磁率（选件）

2个材料夹具（工作温度：-55至＋200摄氏度）

多功能分析（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）

扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）

宣传资料　2006-07-13｜PDF　697　KB｜订购拷贝件

描述

Agilent　4291B射频阻抗/材料分析仪是针对表面封装元器件和介电/磁性材料的高精度测量的完整解决方案。与反射测量技术不同，Agilent　4291B使用直接的电流－电压测量技术，可在广泛的阻抗范围内提供   的阻抗测量结果。

基本阻抗精度是＋/-0.8%。高Q精度有利于进行低损耗元器件分析。内置合成器扫频范围从1　MHz到1.8　GHz，具有1　MHz的分辨率。1.8米长的精密电缆可将分析仪连接到测试站，以便您将测试点延伸到分析仪之外，而不会影响测量精度。  的矩阵和错误补偿功能消除了夹具的测量错误，确保DUT/MUT的高精度和可重复性。

Agilent　4291B还提供自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下测量器件。用可选的直流偏置（达40V和100mA）使测量偏置独立于阻抗特性。只要按一个按钮，内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。

Agilent　4291B有2个测量通道；每一个通道都可设置为测量1个（即Z）或2个（即Z-theta）阻抗参数。具有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪（保存在RAM中）。内部软盘驱动器以LIF或MS-DOS格式保存程序和测试数据。有了内装IBASIC，您就能从Agilent　4291B直接控制恒温箱或园片探测器这类外部测试设备，而不需要单独的仪器控制器。

材料评估

Agilent　4291B能容易地进行全面的材料评估，提高材料评估的质量和效率。Agilent　4291B提供宽频率范围（1MHz至1GHz）介电/磁性材料测量的总体解决方案。