微波暗室 天线近场测量系统基本介绍 
 

  平面近场天线测量系统是利用天线的近场区幅相分布和远场区幅相分布成数学傅里叶变换关系的原理，通过高精度三维采样模块（含平面近场扫描架和高性能微波探头）和射频控制系统（含超宽带微波模块及系统控制与处理单元）实现在天线近场区的幅度相位采集，通过对采集的幅相和位置数据进行傅里叶变换运算，获得被测天线的远场区分布，从而实现对天线的辐射参数，如方向图、增益、极化特性等的分析。 
 
 
 微波暗室 天线近场测量系统性能特点 
 
 
 
l 天线增益测试；  
 
 
l 天线方向图：副瓣电平、波束宽度、差零深测试；  
 
 
l 天线近场诊断功能测试；  
 
 
l 多任务（多频点、多通道、多波位等）测试功能；  
 
 
l 扩展功能：数字阵列测试功能、近场RCS测试功能、超材料及器件测试功能、通信天线三维方向图测试功能。
 
 
 
 
 
 
 微波暗室 天线近场测量系统技术参数 
 
 
 
技术参数：
 
 
 
  
 
   
 
    
 
工作频段：
 
 
    
 
0.5～40GHz
 
 
    
 
扫描架运动方式
 
 
    
 
立式平面近场扫描架，xyz三维直线运动+P轴极化旋转
 
 
   
 
   
 
    
 
扫描架系统尺寸
 
 
    
 
30000×1240×16000
 
 
    
 
Z向行程
 
 
    
 
≥250
 
 
   
 
   
 
    
 
P轴
 
 
    
 
同轴交连0°～360°，5个限位
 
 
    
 
扫描速度
 
 
    
 
400mm/S
 
 
   
 
   
 
    
 
探头架承重
 
 
    
 
≥35kg
 
 
    
 
幅度精度（RMS）
 
 
    
 
0.5dB
 
 
   
 
   
 
    
 
相位精度（RMS）
 
 
    
 
2°
 
 
    
 
天线增益精度
 
 
    
 
0.3dB
 
 
   
 
   
 
    
 
副瓣电平精度
 
 
    
 
0.5dB@SLL=-35dB
 
 
    
 
副瓣电平测试精度
 
 
    
 
1.5dB@SLL=-45dB
 
 
   
 
  
 
 
 
 
 
 
 
 
 微波暗室 天线近场测量系统使用说明 
 

   平面近场天线测量系统是利用天线的近场区幅相分布和远场区幅相分布成数学傅里叶变换关系的原理，通过高精度三维采样模块（含平面近场扫描架和高性能微波探头）和射频控制系统（含超宽带微波模块及系统控制与处理单元）实现在天线近场区的幅度相位采集，通过对采集的幅相和位置数据进行傅里叶变换运算，获得被测天线的远场区分布，从而实现对天线的辐射参数，如方向图、增益、极化特性等的分析。 
 
 
 微波暗室 天线近场测量系统采购须知 
 

   平面近场天线测量系统是利用天线的近场区幅相分布和远场区幅相分布成数学傅里叶变换关系的原理，通过高精度三维采样模块（含平面近场扫描架和高性能微波探头）和射频控制系统（含超宽带微波模块及系统控制与处理单元）实现在天线近场区的幅度相位采集，通过对采集的幅相和位置数据进行傅里叶变换运算，获得被测天线的远场区分布，从而实现对天线的辐射参数，如方向图、增益、极化特性等的分析。