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商标 | 创鑫 |
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型号 | CX-117A |
规格 | CX-117A |
包装 | 纸箱 |
产量 | 1000 |
元器件种类 | 电子元件测试仪 |
型号 | CX-117A |
规格 | CX-117A |
商标 | 创鑫 |
包装 | 纸箱 |
产地 | 深圳 |
显示方式 | 数码管 |
一、【CX-117A晶振测试仪,晶振测试仪,晶振测试仪厂家】产品简介
CX-117A晶振测试仪是 的晶振测试系统,采用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1~Pr8(ppm)、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。 具有PPM测量功能,预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业,测试结果显示直观。 主要功能:频率测量,PPM测量,周期测量,数据累计,功能设定
二、【CX-117A晶振测试仪,晶振测试仪,晶振测试仪厂家】主要技术指标:
频率测量范围:0.1Hz—100MHz
频率测量灵敏度:30mv
PPm测量:3KHz—100MHz
PPm测量精度:≤1 PPm(1×10-6) (可扩展0.1PPm,0.01 PPm)
中心频率:0 Hz—100
MHz任意设定
误差设置范围设定:±1—±999 PPm任意设定。
闸门设置:四档,0.01s、0.1s、1s三档固定, 档闸门1ms—10s可设,每1mS为一阶梯任意设定。
周期测量范围:100 ms—10 s
晶振稳定性:5×10-7/日 (可选 1×10-7/日,1×10-8/日)
时基频率:OCXO--10MC
三、【CX-117A晶振测试仪,晶振测试仪,晶振测试仪厂家】特点:
微机控制,可编程器件开发,模块化设计 100MHz同步等精度测量方式 SMT贴装生产、工艺,全新小型化结构设计 9位LED显示 PPm提示功能 四、可选配: 晶体测量匹配器:32.768KHz-20MHz、20MHz-40MHz, 40MHz-65MHz、65MHz-100MHz.。
四、【CX-117A晶振测试仪,晶振测试仪,晶振测试仪厂家】产品图片
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