型号 | 长禾 |
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规格 | 动、静态测试台 |
是否有现货 | 是 |
元器件种类 | 半导体器件测试仪 |
型号 | 长禾 |
规格 | 动、静态测试台 |
产地 | 西安 |
检测环境 | 防静电,25℃±3℃,rh:40%~75% |
功率半导体测试实验室基本介绍半导体分立器件检测服务。技术开发、推广、转让。集成电路产品检测测试服务。功率半导体测试实验室性能特点测试范围如下:MOS场效应管、二极管、晶闸管、晶体管、绝缘栅双极型晶体管等功率半导体测试实验室技术参数漏源间击穿电压漏源间通态电压漏源间通态电阻阈值电压漏极反向电流栅极漏电流二极管正向压降反向漏电流反向击穿电压正向压降门极触发电流门极触发电压维持电流断态重复峰值电流反向重复峰值电流门极反向漏电流通态电压共发射极电流放大倍数集电极—基极击穿电压发射极—基极击穿电压集电极—发射极击穿电压基极—发射极饱和压降集电极—发射极间饱和压降集电极—发射极漏电流集电极—基极反向电流发射极—基极间漏电流基极—发射极间非饱和压降集电极-发射极击穿电压阈值电压集电极-发射极漏流栅极漏电流集电极-发射极饱和压降二极管正向压降功率半导体测试实验室使用说明半导体分立器件检测测试服务。技术开发、推广、转让。集成电路产品检测测试服务。功率半导体测试实验室采购须知
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