显示屏偏光测量尺寸用二次元测量仪基本介绍 
 
 
 
2.5次元光学测高特性：                               
 
 
包含二次元所有功能、Z轴加装光栅、光学测高；
 
 
加装探头、完成部份三维测量；（选配）
 
 
利用光学原理，非接触试测量；
 
 
适用以二坐标测量为目的的一切领域；
 
 
是小、薄、软、零部件的测量解决方案；
 
 
可对点、线、圆、角度、等元素实现  测量；
 
 
并具有强大报表输出功能、经济、实用;
 
 
 
 显示屏偏光测量尺寸用二次元测量仪性能特点 
 
 
 
硬件、主要特点：
 
 
精密传动装备设计，实现快速移动。
 
 
高精密大理石底座，立柱框架稳定可靠。
 
 
精密P级直线导轨及V型导轨，拥有高的直线性,
 
 
保证机器精度及使用寿命。
 
 
彩色CCD，拥有高清测量画面。
 
 
轮廓光、表面光、同轴光（选配）灵活照明，清晰度高，测量  无比。
 
 
精密光学尺，每1微米至关重要。
 
 
 
 显示屏偏光测量尺寸用二次元测量仪技术参数 
 
 
 
软件：点介绍：
 
 
1、  软件架构设计，软件算法行业、稳定可靠，支持各国语言，远销海外，放心使用。
 
 
2、手动机器配可编程软件，实现影像区自动测量，箭头指示下一步测量方向，双手只需移动机器，
 
 
  无需软件在次编辑。减少人工疲劳，解放双手，让您体验飞一般的测量。
 
 
3、强大测量结果显示，公差设置，专业的、独立的 SPC 统计分析软件，强悍霸主地位。
 
 
 
 显示屏偏光测量尺寸用二次元测量仪使用说明 
 
 
 
EVS 2D软件、功能介绍：
 
 
元素测量：测量点、线、圆、弧、角度、椭圆，规定点数测量矩形，自动识别点、线、圆、弧。
 
 
元素构造：中心点构造、交点构造、中点构造、线构造、圆构造、角度构造。
 
 
元素预置：点、线、圆、弧。
 
 
图形处理：座标平移，工件摆正。任意轴摆正，座标系重置。
 
 
图形放大，图形缩小，图形平移，图形打印图形选中，取消选中，图形删除。
 
 
设置放大，图形缩小，图形打印圆形选中，取消选中，图形删除。
 
 
设置影像的灰度，饱和度，对比度，影像保存为BMP格式。
 
 
多种寻边模式，电脑自动取点，自动识别圆、弧大大提高采点速度。
 
 
影像支持S端子输入；影像大小640*480mm。测量数据直接发送到AutoCAD中，测量的图形可以dxf文档保存。测量数据可发送到WORD，Excel中，进行统计分析，可画出简单的Xbar-S管制图，求出Ca，等各种参数。多种语言界面切换。
 
 
 
 
 
简单明了操作界面、手动编程
 
 
灵活丰富的测量功能
 
 
 
 
 
画点、点群、画线、画圆、画弧、B-Spline、曲线、矩形、多边形、椭圆
 
 
自动捕捉边缘点、自动点测量
 
 
自动线测量、自动圆测量、自动圆弧测量、自动线识别
 
 
框选点群、框选直线、框选圆、框选圆弧、框选椭圆
 
 
点选点群、点选圆
 
 
实用的构造功能
 
 
两点连线、线中点、点线距、点圆切线、两线交点、角平分线、线线距离、圆线距、
 
 
圆线交点、圆圆交点、圆圆距离、圆圆切线
 
 
多种格式输出
 
 
将测量结果以不同形式输出，便于客户的后期使用。
 
 
 
 
 
SPC 输出
 
 
通过对数据的采样、管制、分析，软件会对生产过程进行评估，并给出相关结果和图形。
 
 
 
 显示屏偏光测量尺寸用二次元测量仪采购须知